GB/T 17626.1-2006 電磁兼容試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論為GB/T 17626 電磁兼容 試驗和測量技術(shù)系列標準的第一部分。

      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論涵蓋了電氣和電子設備（裝置和系統）在其電磁環(huán)境中的試驗和測量技術(shù)。
      在過(guò)去，機電裝置和系統對電磁騷擾（即傳導、輻射電磁騷擾和靜電放電）并不敏感。目前所使用的電子元件和設備對這些騷擾則要敏感的多，尤其是對“高頻”和“瞬態(tài)”現象。由于電子元件和設備以驚人的速度投入運行，電的和電磁的騷擾引起的嚴重誤操作、損壞等危險也隨之增加。
      有關(guān)專(zhuān)業(yè)標準化技術(shù)委員會(huì )（或用戶(hù)和設備制造商）需負責從GB/T 17626系列標準中選擇適當的抗干擾度試驗項目及設備適用的試驗等級。但是為了提高這項工作的協(xié)調和標準化，專(zhuān)業(yè)標準化技術(shù)委員會(huì )或用戶(hù)、制造商應考慮GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論所給出的建議。
      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論等同采用IEC61000-4-1（2000）《電磁兼容第四部分：試驗和測量技術(shù) 第一部分：抗擾度試驗總論》。
      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論自實(shí)施之日起代替GB/T 17626.1-1998《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論》。